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X-RAY测厚仪标准片的使用和选择
更新时间:2021-05-24 点击次数:819次
X-RAY测厚仪标准片专业用于测厚仪在测金属镀层厚度的时候进行的标准化校准,这样使用使得测厚仪所测的误差值变小,对于半导体生产行业,电镀行业使用测厚仪所造成的成本检测起到了很重要的作用。标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。
  X-RAY测厚仪标准片的使用和选择:
  厚度由X射线吸收方法或比率方法确定,则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性,通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度,然后通过软件达到对仪器的校正。
  可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器,厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料,但对试样基材为合金成分的,有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同,但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
  X-RAY测厚仪标准片在使用时选择适当的标准厚度块对仪器进行示值校正,选择一块合适和一块为仪器测量上限1/2的标准厚度块作仪器高低两端的示值校正。测量范围分为若干档的仪器,其示值校正应在每档分别进行。
  X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

X-RAY测厚仪标准片

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